SERMA TECHNOLOGIES, Expert in electrical Tests, provides the following services : Electrical test and characterization, IC and components ESD and latch-up, battery cells and packs, systems.

SERMA TECHNOLOGIES hat spezielle Schulungen entwickelt, in denen Fachpersonal sowohl in den Technologien als auch in den dazu gehörenden Prozessen geschult werden. Diese Standard- bzw. kundenspezifischen Kurse enthalten sowohl praktische als auch theoretische Inhalte.

SERMA TECHNOLOGIES provides Consulting and Audit services in order to respond to its customers' needs regarding: reliability & COTS, problem solving, obsolescence management, assembly process management.

Das ITSEF (Information Technology Security Evaluation Facility) von SERMA TECHNOLOGIES ist ein für die Sicherheitsbewertung gemäß der CC-Normen zugelassenes Labor (CC-Common Criteria for Information Technology Security Evaluation).

Environnemental tests cover the following domaines :
Reliabiliy and robustness ... Components, semi-conductors process caracterizattion, battery cells and packs, Systems.

SERMA offers unique expertise services in Safety and Reliability Engineering. This expertise relies on our ability to process the advanced issues of safety-critical systems and software.



Operational solutions for Hardware electonics technologies:
Technological analysis, failure analysis, assembly qualification, PCB modifications (FIB), µ and nano structure analysis (TEM)

Electrical Expertise -Environmental Testing

 

Determine the parameters and the reliability models of semi-conductor processes address the main failure mechanisms to which they may be subjected in integrated circuits.Test on basic structures dedicated.


• Interconnection processes: test electromigration
• MOS transistors: conducting tests to hot carriers
• Bipolar transistors: accelerated tests
• Dielectrics: breakdown strength. Time Dependant Dielectric Breakdown (TDDB).

Equipment:

• dedicated Qualitau Inc.Modular Integrated reliability System Analyser (MIRA)

 

Standard:

• EIA / JEDEC / AEC-Q100

 

Elektrische Expertise – Änderung der integrierten Schaltkreise durch FIB

Der FIB (Focused Ion Beam) erlaubt Eingriffe auf die verschiedenen Layer eines integrierten Schaltkreises mit folgendem Zweck:
Validieren einer Entwicklung für ein neues Produkt
Frühere Herausgabe dieses neuen Produkts
Prototyping für den Endkunden
als Vorbereitung für die elektrische Charakterisierung und Fehleranalyse..


Interventionsarten :

Korrektur / Änderung der Funktionalität:
Unterbrechungen metallischer Leiterbahnen
Hinzufügen von Lücken, Aufbringen neuer Leiterbahnen
Hinzufügen von Testkontakten Messzwecken.


Weitere Einsatzmöglichkeiten für den FIB :

Mikroschnitt für die physikalische Charakterisierung
Vorbereiten von Proben zur TEM-Beobachtung > Mehr darüber
Mikrobearbeitung: Gravur und Aufbringen von Layern mit Mikrometermaßstab.


Ausstattung :

FIB FEI 200 mit CAD-Station